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제품 상세 정보
자세한 내용:
에너지 분산 X선 형광 분광기 EDX8800(진공형)
제품 특징
1.국제 선진적인 미국 오리지널 수입 SDD (SILICON DRIFT DETECTOR) 실리콘 드리프트 탐지기를 채용하여 해상도가 더 높고 가벼운 원소의 검출 제한을 크게 높였으며, 표준 검출 제한은 SI-PIN 탐지기보다 100배 높음;측정 범위가 더 넓어 각종 일반 재료 원소 분석 요구를 기본적으로 포함한다;
2.미국 오리지널 수입 데이터 통합 처리 시스템을 배치하여 데이터 수집 속도가 더 빠르고 측정이 더 안정적이며 중복성과 장기 안정성이 더 좋다;
3. 새로 개발한 전용 측정 소프트웨어를 구성하고 다양한 그래픽 계산 방법을 통합하여 측정 데이터가 더욱 정확하고 안정적입니다.
4.소프트웨어 모니터링 기기의 주요 핵심 부품의 운행 상태, 더 빨리 사용;
5. 전문적으로 개발한 진공시스템을 배치하여 진공성능이 더욱 좋고 시험효과가 더욱 좋다.
기술 매개 변수:
1. 나트륨(Na)에서 우라늄(U)까지 원소 분석 범위
2. 원소 함량 분석 범위는 1ppm에서 99.99%
3. 낮은 체크 아웃 한계: 1ppm
4. 측정시간: 60-200초(조정 가능)
5. 기기 작동 전원: AC220±5V
6. 에너지 해상도 129±5eV
7. 엑스선 광관 대출력 전류: 1mA
8.극한압력:6.7×10-2Pa
9. 샘플 캐비티 크기: 610*320*100(mm)(진공 흡입 없음)/Φ100*h75(mm)(진공 샘플 캐비티)
10. 반복 측정(표준시료 기준): ±0.05%(고함량)/±0.002%(미량)
11. 장기근속 안정성(표준시료 기준) ±: 0.06%(고함량) / ±0.0025%(미량)
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