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>제품>144nm 고해상도 2D 교정 샘플(foraFM, STM, Auger, FIB, SEM)
144nm 고해상도 2D 교정 샘플(foraFM, STM, Auger, FIB, SEM)
144nm 고해상도 2D 교정 샘플(for AFM, STM, Auger, FIB, SEM)
제품 상세 정보

실리콘 크기:4 * 3 * 0.5mm, 도안은 알루미늄 금속으로 만들어졌다 (높이는 대략90nm, 폭75nm, 이 매개 변수는 교정되지 않았습니다. 이 패턴은 실리콘 조각으로 가득 차 있습니다.),2D홀로그램 패턴, 간격144nm, 표층 텅스텐 도금 필름, 정확도 ±1nm

제공되는 제품은 다음과 같습니다.모형 150-2D모형 150-2DUTC, 그 중모형 150-2D표본 교정,제조업체 인증 포함,근원을 거슬러 올라갈 수 없다;모형 150-2DUTC표본 교정,인증,추적 가능,인증서 제공 (PTB, NIST의 독일 대응)。

저희가 추천해드릴게요.모형 150-2D, 고유한 기능으로 사용이 편리하고 견고성이 뛰어나며 접촉 모드에서 스캔하여 빠른 교정 및 측정을 제공합니다.

l 2D모드,X축 및Y축 동시 정렬

l 프로브가 느려져도 이미지 대비에 영향을 주지 않음

l 접촉 스캔을 통해 높은 명암비를 얻을 수 있습니다.

l 전체 배치로 스캔 영역을 찾는 시간 절약

l 고배율 응용뿐만 아니라 중간 배수5kX개별 원체는 여전히 명확하게 구분할 수 있습니다.

AFM AFM 모드 모드 스캔

SEM 중간 확대

주문 정보:

상품 번호

제품명

규격

80125-2D는

모형 150-2D, 144nm고해상도2D표본 교정, 장착되지 않은

80125-2D-X는

같은 상, 핀 샘플대가 있는 것을 제공할 수 있다;또는 특별 공급AFM은의 (15mm스테인리스강디스크);또는 지정 견본대

80126-2D

모형 150-2DUTC144nm고해상도2D샘플 교정,제거

80126-2D-X는

같은 상, 핀 샘플대가 있는 것을 제공할 수 있다;또는 특별 공급AFM은의 (15mm스테인리스강디스크);또는 지정 견본대

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